Набор пробников ближнего магнитного поля Rigol NFP-3 предназначен для электромагнитных исследований и предварительного тестирования проектируемых приборов или конструкций. С его помощью, можно локализовать и идентифицировать источники помех в блоках и узлах электронных сборок, а также провести мониторинг ЭМС устройств.
Просим уточнять актуальные цены у менеджеров компании.
Для получения актуальной информации обращайтесь к менеджерам.
Пробники работают по принципу широкополосных антенн, принимая выбросы излучений от компонентов схемы, от шин печатных плат, из отверстий в корпусе и других частей конструкции, которые могут быть источниками помех. В качестве измерительного прибора совместно с пробниками применяются анализаторы спектра и осциллографы Rigol.
Набор пробников ближнего поля Rigol NFP-3 включает в себя 4 пробника:
|
Модель пробника |
Описание |
|
NFP-3-P1 |
Пробник ближнего поля для измерения магнитного поля. Диапазон измерения находится в пределах 10 см. Он используется для локализации поля утечки. |
|
NFP-3-P2 |
Пробник ближнего поля для измерения магнитного поля. Диапазон измерения находится в пределах 3 см. Он используется для точного тестирования поля утечки. |
|
NFP-3-P3 |
Пробник ближнего поля для измерения магнитного поля. Разрешение около 5 мм. Он используется для проверки электромагнитной утечки кабелей. |
|
NFP-3-P4 |
Пробник ближнего поля для измерения магнитного поля. Разрешение около 2 мм. Он может проверять магнитное поле в вертикальном направлении и электромагнитное поле, создаваемое проводком печатной платы. |
Преимущества и особенности
NFP-3 используется с анализаторами спектра и осциллографами RIGOL для обнаружения и измерения параметров электромагнитных помех, исходящих от испытуемых электронных устройств, в широком диапазоне частот от 30 МГц до 3 ГГц.Применение
-
Тестирование на электромагнитную совместимость
-
Тестирование на помехоустойчивость
-
Бесконтактные измерения в радиочастотных цепях
-
Поиск электромагнитных помех
- Определение (с помощью анализатора спектра Rigol) частоты и относительной мощности спектральной составляющей источника помех